panid

Mga produkto

LT-WJ04 Prosthetic finger tester

Mubo nga Deskripsyon:

Ang accessible nga probe gigamit aron mahibal-an kung ang usa ka bahin o bahin sa dulaan mahimong maabot sa probe; Kini usa ka proyekto sa pagsulay sa kaluwasan sa dulaan ug mao ang sukaranan sa tanan nga mga pagsulay sa dulaan. Gihimo sa aluminum alloy nga materyal, ang nawong kay electroplated sa bulawan (usahay ang mga tawo usab nga sagad nailhan nga "bulawan nga tudlo", kini mahimo usab nga gitawag nga analog nga tudlo, peke nga tudlo). Ang palpable probe gibahin ngadto sa duha ka matang: palpable probe A ug palpable probe B: Palpable probe A mao ang pagsundog sa tudlo sa usa ka bata nga tulo ka tuig ang edad paubos, ug ang palpable probe B mao ang pagsundog sa tudlo sa usa ka bata nga kapin sa tulo ka tuig ang edad. . Busa, ang gidak-on sa probe nga bahin sa maabot nga probe A mas gamay kay sa maabot nga probe B.


Detalye sa Produkto

Mga Tag sa Produkto

Teknikal nga mga parameter

1. Type nga numero: A/3-, B/3+
2. Magamit nga grupo sa edad: ubos sa 3 ka tuig ang panuigon, labaw sa 3 ka tuig ang panuigon
3. Materyal: Aluminum nga haluang metal
4. Tomo: 25.6*25.6*145mm, 38.4*38.4*160mm
5. Timbang: 150Kg, 335Kg

Sakop sa aplikasyon

Ang accessible nga probe A angay alang sa mga dulaan nga gigamit sa mga bata nga 36 ka bulan ug mas bata pa (ubos sa 3 ka tuig), ug ang accessible nga probe B angayan alang sa mga dulaan nga gigamit sa mga bata nga 36 ka bulan ug labaw pa (kapin sa 3 ka tuig), kung ang dulaan mosangkad sa duha ka grupo sa edad, ang duha. Ang mga probes kinahanglan nga sulayan nga gilain.

Pamaagi sa aplikasyon

1. Sa bisan unsa nga paagi, i-extend ang joint reachable probe ngadto sa gisukod nga bahin o component sa dulaan, ug i-rotate ang matag probe sa 90° aron masundog ang tudlo sa joint movement. Ang usa ka bahin o bahin sa dulaan gikonsiderar nga makab-ot kung ang bisan unsang bahin sa wala pa ang abaga niini mahimong makontak sa kana nga bahin o bahin.
2. Ang orihinal nga kahulogan sa reachability nagtumong sa bisan unsa nga bahin sa lawas sa mga bata sa lain-laing mga edad makahikap sa bisan unsa nga bahin sa dulaan, ug bisan unsa nga bahin sa lawas sa mga bata adunay pinakadako nga makapatandog sirkumperensya sa tudlo, mao nga ang reachability pagsulay mao ang gipahigayon gamit ang simulate nga tudlo sa mga bata.
3. Sa wala pa ang pagsulay, kuhaa ang mga natangtang nga mga bahin o mga bahin nga gituyo aron makuha gikan sa dulaan, ug dayon ipatuman ang mahikap nga pagsulay.
4. Atol sa accessibility test, ang simulated finger curvature kinahanglang masiguro nga kini makahikap sa bisan unsang bahin sa dulaan kutob sa mahimo.

Pamaagi sa aplikasyon

● USA: 16 CFR 1500.48 para sa ubos sa 3 anyos, 16 CFR 1500.49 para sa kapin sa 3 anyos;

● EU: EN-71;

● China: GB 6675-2003.


  • Kaniadto:
  • Sunod: